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蔡司x-ray探伤内部缺陷检测机BOSELLO-OMNIA射线无损扫描
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蔡司x-ray探伤内部缺陷检测机BOSELLO-OMNIA射线无损扫描

 详情说明
​X射线属于一种电磁波,其波长较短,波长范围在0.0006--80nm之间,这种电磁波具有很强的穿透能力,可以穿透不同密度的物质,并且对于一些可见光不能穿透的物品也具有良好的穿透性。

蔡司x-ray探伤内部缺陷检测机BOSELLO-OMNIA射线无损扫描是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,那么在撞击的过程中,电子会进行突然的减速,因为减速导致的动能损失,会以x-ray的形式被释放出来,其具有较短的波长,但是电磁辐射的能量很高。

对于一些无法通过外观检测到内部,或者对于无法到达检测位置的物品,x-ray探伤内部缺陷检测机具有很强的穿透能力,因为X-RAY穿透的物质密度不一样,所以带来的光强度也不一样,那么x-ray检测可以将这些不同的光强度形成相应的影像,如此一来就可以清晰的显示出待测物品内部的结构情况,从而实现在不破化待检物品的情况下,检测出物品哪里出了问题。

蔡司X射线无损扫描检测在工业领域的使用较为广泛,主要有电子产品,电子元件,半导体元器件,接插件,塑胶件,BGA,LED,IC芯片,SMT,CPU,电热丝,电容,集成电路,电路板,锂电池,陶瓷,铸件,医疗,食品等。









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